仪器生产商： XXX
资产编号： SN201805045
资产负责人： ----
购买经办人： ----
主要配件： ----
主要参数： Pressure : UHV-25 mbar Energy resolution : Ag 3d5/2, <0.5 eV FWHM at 20 kcps @UHV Sample stage temperature : 220 ~1500 K
仪器介绍：
一、设备型号、关键性能参数
型号：SPECS NAP-XPS
关键性能参数：
工作压力：UHV-25 mbar
能量分辨率：Ag 3d5/2, <0.5 eV FWHM at 20 kcps @UHV
样品台温度：220 K-1500 K
二、设备原理
X射线光电子能谱(XPS)是一种用于测定材料中元素构成，以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。该种技术用X射线照射所要分析的材料，同时测量从材料表面及以下若干纳米范围内逸出电子的动能和数量，从而得到X射线光电子能谱。传统X射线光电子能谱技术需要在超高真空环境下进行，而近常压光电子能谱系统(NAP-XPS)则可以突破高真空或超高真空下的壁垒，实现在近常压的条件下进行光电子能谱测量。它的应用使得在近常压下对固-气、液-气界面进行化学成分、氧化态以及电子结构的实时原位分析成为可能。
三、应用范围
材料表面元素组成分析
材料表面成分价态分析
四、设备特色
单色化X射线源
UHV-近常压工作气氛可调
样品原位加热
五、应用领域
超导、拓扑绝缘体、化合物半导体、半导体、催化、生物，材料
主要仪器管理员： 李逸凡(电话:15840606133)
仪器管理员： 李浩(电话:15022791895)
仪器管理员： 龚忠苗(电话:18360484975)
工作时间： 08:30-12:00;13:30-17:30
最小可预约时间段： 4 小时
最大可预约时间段： 168 小时
日历最小单位： 1 小时
最近提前预约时间： 未授权用户: 0小时； 普通资格用户: 0小时； 资深资格用户: 0小时
最远提前预约时间： 未授权: 720 小时 0 点； 普通: 720 小时 0 点； 资深: 720 小时 0 点
预约保护时间： 15 分钟
失约保护时间： 15 分钟
断电延时时间： 30 秒
最短重上电时间： 5 秒
使用超时提醒： 120 秒
最大有效预约次数： 5 次/天
无代价撤销预约时间： 1440 分钟
| 用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
|---|---|---|
| 未授权资格 | ||
| 普通资格 | ||
| 资深资格 |
| 序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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