仪器生产商: ----
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主要参数: ----
仪器介绍:
设备原理:
利用扫描隧穿原理或者探针尖端与样品之间的作用力,在原子尺度探测样品表面的结构和电子态密度。
关键性能参数:
1. 图像分辨率:z方向0.01nm,XY方向0.1nm
2. 本底真空:制备室<8.0X10E-10 mBar,STM扫描室<2.0x10E-10 mBar
应用范围:
高质量原子分辨图像,观察样品表面形貌特征
配备氩离子枪和蒸发源,可制备各类样品并原位表征
基于qPlus传感器的nc-AFM扫描模式可以获得有机分子的原子分辨成像,可以在原子尺度表征绝缘体材料表面
设备特色:
支持qPlus nc-AFM
原位样品处理(加热、氩离子轰击)
配备主动式减震平台,系统噪音低
应用领域:
表面在位化学、纳米材料、拓扑绝缘体、半导体、化合物半导体、二维材料和其他先进材料等
主要仪器管理员: 袁秉凯(电话:18351089605)
工作时间: 08:30-12:00;13:30-17:30
最小可预约时间段: 0.5 小时
最大可预约时间段: 168 小时
日历最小单位: 0.5 小时
最近提前预约时间: 未授权用户: 24小时; 普通资格用户: 24小时; 资深资格用户: 24小时
最远提前预约时间: 未授权: 720 小时 0 点; 普通: 720 小时 0 点; 资深: 720 小时 0 点
预约保护时间: 15 分钟
失约保护时间: 15 分钟
断电延时时间: 30 秒
最短重上电时间: 5 秒
使用超时提醒: 120 秒
最大有效预约次数: 5 次/天
无代价撤销预约时间: 1440 分钟
用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
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未授权资格 | ||
普通资格 | ||
资深资格 |
序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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